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低价X射线荧光镀层测厚仪厂家***
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HABER-100C X荧光镀层测厚仪
一、应用领域
HABER-100C是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：
五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；含量普通的合金材料分析，镀液分析等常规领域。
HABER系列光谱使用领域：
1.镀层测厚
（1）.五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等；
（2）.PCB电镀Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等；
二、产品特点
1、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测
2、检测灵敏度0.01%到100%；镀层0.01um到40um
3、测量时间短，每个测量只需10-60秒
4、15-20 倍彩色CCD系统用于样品图像观察
5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用
6、大窗口探测器，提高测量稳定性
7、机械结构简单，可靠
8、FP基本算法软件
三、技术指标
高压发生器
输入电压 24VDC±10%
输出电压 0-50kV
输出电流 0-1.0mA
输出精度 0.01%
备注 有自动软件侦测功能
X射线管
X射线管靶材 W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选
X射线管窗口 Be窗
电气参数 50W、4-50kV，0-1000uA
冷却方式 硅脂冷却
使用寿命 15000-20000h
探测器
检测范围 AlPPP13PPP-UPPP92PPP
分辨率 FWHM小于760eV
探测窗口 铍窗，窗口面积：400mmPPP2PPP
镀层测厚指标
分析范围 0.01um—40um
谱处理系统
处理器类型 全数字化32-bit3 DSP
谱通道数 256，512，1024，2048可供选择
能量范围 1400eV-40960eV
光路系统和样品观测
准直器系统 单一准直器φ0.2mm
对焦系统 激光对焦系统
样品观察系统 500万象素高清CCD摄像头，20倍光学变焦。
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